| S-8261AAJMD-G2J | |
|---|---|
| 제품 모델 | S-8261AAJMD-G2J |
| 제조사 | SEIKO |
| 기술 | |
| 가능 수량 | 105231 pcs new original in stock. 주식 및 견적 요청 |
| ECAD 모델 | |
| 데이터 시트 | S-8261AAJMD-G2J.pdf |
| S-8261AAJMD-G2J Price |
온라인으로 가격 및 리드 타임 요청 or Email us: Info@ariat-tech.com |
| S-8261AAJMD-G2J의 기술 정보 | |||
|---|---|---|---|
| 제조업체 부품 번호 | S-8261AAJMD-G2J | 범주 | 집적회로 (ic) |
| 제조사 | SEIKO | 기술 | |
| 패키지 / 케이스 | 09+ | 가능 수량 | 105231 pcs |
| SOT23 | 조건 | New Original Stock | |
| 보증 | 100% Perfect Functions | 리드 타임 | 2-3days after payment. |
| 지불 | PayPal / Telegraphic Transfer / Western Union | 출하 기준 | DHL / Fedex / UPS |
| 포트 | HongKong | RFQ 이메일 |
제품 모델
S-8261AAJMD-G2J
소개
리튬 이온/리튬 폴리머 배터리를 위한 배터리 보호 IC
브랜드 및 제조사
세이코 인스트루먼트 주식회사
특징 및 기능
과충전 보호, 과방전 보호, 단락 보호, 충전 및 방전 제어, 고정밀 전압 감지
제품 성능
저전류 소비, 고정밀 전압 감지, 신뢰할 수 있는 충전/방전 안전 제어, 잘못된 작동에 대한 강건함
기술 사양
전압 감지 범위 (과충전): 4.25V ± 0.025V, 전압 감지 범위 (과방전): 2.40V ± 0.080V, 충전 지연 시간: 1.0s (전형적), 방전 지연 시간: 144ms, 작동 온도: −40°C ~ 85°C
크기, 형태 및 포장
SOT-23-6 패키지, 컴팩트 형상, 자동 조립을 위한 테이프 및 릴 공급
품질 및 신뢰성
높은 제조 기준, 일관된 성능, 다양한 조건에서의 내구성
제품 장점
배터리 안전성 향상, 배터리 수명 연장, 최소 디자인 풋프린트
제품 경쟁력
경쟁력 있는 가격, 산업 표준 기능, 전자기기 제조업체에서 널리 채택됨
호환성
다양한 단셀 리튬 이온/리튬 폴리머 배터리 팩에 대해 구성 가능
표준 인증 및 준수
RoHS 준수, 배터리 IC에 대한 표준 안전 규정 준수
수명 및 지속 가능성
긴 작동 수명, 손상을 방지함으로써 지속 가능한 배터리 사용에 기여
실제 적용 분야
스마트폰 및 모바일폰, 휴대용 미디어 플레이어, 디지털 카메라, 노트북 및 휴대용 컴퓨터, 전자 담배, 충전식 전동 공구
이메일 : Info@Ariat-Tech.com 또는 RFQ S-8261AAJMD-G2J 온라인.
| S-8261AAJMD-G2J 증권 | S-8261AAJMD-G2J 가격 | S-8261AAJMD-G2J 전자 | |||
| S-8261AAJMD-G2J 구성 요소 | 인벤토리 | S-8261AAJMD-G2J Digikey | |||
| 공급 업체 S-8261AAJMD-G2J | S-8261AAJMD-G2J 온라인 주문 | 문의 S-8261AAJMD-G2J | |||
| S-8261AAJMD-G2J 이미지 | S-8261AAJMD-G2J 그림 | S-8261AAJMD-G2J PDF | |||
| S-8261AAJMD-G2J 데이터 시트 | S-8261AAJMD-G2J 데이터 시트 다운로드 | 제조업체 | |||
| S-8261AAJMD-G2J 관련 부품 | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| 영상 | 제품 모델 | 기술 | 제조사 | 견적 | |
 |
S-8261AAJMD-G2 | S-8261AAJMD-G2 SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AAJMD-G2JT2G/S-8261AAJMD-G2JT2S | S-8261AAJMD-G2JT2G/S-8261AAJMD-G2JT2S SEIKO | SEIKO | ||
 |
S-8261AAJMD-G2JT2G | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAJMD-G2JT2U | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAMMD-G2MT2G | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAJMD IC | SEIKO SOT-163 | SEIKO | ||
 |
S-8261AAJMD-G2JT2 | S-8261AAJMD-G2JT2 SII | SII | ||
|
S-8261AAHMD-G2HT2U | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAJMD | S-8261AAJMD SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AAJMD-G2J-T2 | S-8261AAJMD-G2J-T2 SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AALMD-G2LT2G | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAJMD-G2JT2S | S-8261AAJMD-G2JT2S SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AAHMD-G2HT2S | S-8261AAHMD-G2HT2S SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AAJBD-G2JTFG | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAJMD-G2JT2S IC | SII SOT23-6 | SII | ||
|
S-8261AAGMD-G2GT2S | S-8261AAGMD-G2GT2S SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AAHMD-G2HT2G | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAGMD-G2GT2U | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
|
S-8261AAJBD-G2J-TF | S-8261AAJBD-G2J-TF SEIKO | SEIKO | ||
|
S-8261AALMD-G2LT2U | IC BATT PROT LI-ION 1CEL SOT23-6 | ABLIC Inc. | ||
메시지
더
Microchip의 Polarfire® SOC FPGA는 AEC -Q100 인증을 받았으며, -40 ° C에서 125 ° C의 작동을 포함하여 가혹한 자동차 조건에서 신뢰성을 확인했습니다.64 ...
PSOCTM 4000T는 회사의 5 세대 Capsense ™ 기술 및 다중 판매 기능을 특징으로하는 Infineon의 최초의 제품입니다.이 감지 기술은 성능을 최적화하기 위해 단일...
자동차 부품 공급 업체 경영진에 따르면 자동차 제조업체가 내부 연소 엔진 (ICE) 플랫폼의 수명을 연장하기로 선택함에 따라 북미 시장의 EV 개발이 중단되었다...
Infineon과 Eatron은 AI 배터리 관리 시스템 (BMS) 협업을 산업 및 소비자 전자 장치로 확장하고 있습니다.Infineon의 PSOC ™ 마이크로 컨트롤러를 기반 으로이...
반도체에서 최근 첫 번째 실시간, 간접 기간 (ITOF) 센서 인 Hyperlux ID 시리즈의 출시를 발표했습니다.이 시리즈는 고정력 장거리 측정 및 빠르게 움직이는 물...
신제품
더
PD30 시리즈 광전 센서 Carlo Gavazzi의 소형 광전 센서는 소형 패키지로 고성능입니다. Carlo Gavazzi P...
A111 펄스 코 히어 런트 레이더 용 XC112 / XR112 평가 키트Accelerer의 XC112 및 XR112 평가 킷, 유연한 플랫 케이블 및 최대 4 개의 A111 펄스 코 히어 런트 ...
MINAS A6 시리즈 서보 드라이브 및 모터 Panasonic의 MINAS A6 제품군은 부하의 영향을 최소로 억제하여 안...
UV LED 드라이버 보드 RayVio의 UV-C 에미 터 XE 및 XP1 시리즈 용 UV LED 드라이버 보드 RayVio의 자외...
산업용 및 확장 테스트 DDR SDRAM Insignis의 DDR SDRAM 디바이스는 독점적 인 확장 테스트 플로우로 인해 ...