| TC74VCX574FT | |
|---|---|
| 제품 모델 | TC74VCX574FT |
| 제조사 | TOSHIBA |
| 기술 | TC74VCX574FT TOSHIBA |
| 가능 수량 | 2906 pcs new original in stock. 주식 및 견적 요청 |
| ECAD 모델 | |
| 데이터 시트 | |
| 다운로드 | TC74VCX574FT 세부 정보 PDF |
| TC74VCX574FT Price |
온라인으로 가격 및 리드 타임 요청 or Email us: Info@ariat-tech.com |
| TC74VCX574FT의 기술 정보 | |||
|---|---|---|---|
| 제조업체 부품 번호 | TC74VCX574FT | 범주 | 집적회로 (ic) |
| 제조사 | TAEC Product (Toshiba Electronic Devices and Storage Corporation) | 기술 | TC74VCX574FT TOSHIBA |
| 패키지 / 케이스 | 가능 수량 | 2906 pcs | |
| 패키지 | TSSOP-20 | 조건 | New Original Stock |
| 보증 | 100% Perfect Functions | 리드 타임 | 2-3days after payment. |
| 지불 | PayPal / Telegraphic Transfer / Western Union | 출하 기준 | DHL / Fedex / UPS |
| 포트 | HongKong | RFQ 이메일 | |
| TC74VCX574FT 세부 정보 PDF [English] | TC74VCX574FT PDF - EN.pdf | ||
| 다운로드 | TC74VCX574FT 세부 정보 PDF | ||
제품 모델
TC74VCX574FT
소개
저전압 8비트 래치 및 3.6V 허용 입력/출력
브랜드 및 제조사
도시바 반도체 및 저장장치
특징 및 기능
저전압 작동: 1.8V ~ 3.6V, 8비트 옥타 래치, 입력 및 출력은 최대 3.6V까지 허용, 고속 작동: 3.0 ns (3.3V에서), 낮은 전력 소모, 높은 출력 전류: ±24 mA, JESD 78, Class II에 따라 300 mA를 초과하는 래치업 성능
제품 성능
8V에서 3.6V에서 작동, 고속 데이터 저장 및 검색, 라이브 삽입 및 철수 지원
기술 사양
IC 타입: 옥타 D형 래치, 논리 패밀리: VCX, 출력 타입: 3상
크기, 형태 및 포장
TSSOP-20 패키지, 얇은 축소형 소형 패키지, 표면 장착형
품질 및 신뢰성
JESD의 환경 기준을 초과함, 도시바의 철저한 품질 관리 조치
제품 장점
버스 홀드 회로 포함으로 외부 풀업/풀다운 저항기가 필요 없음, 혼합 모드 신호 작동 지원, VCC로의 다운 변환 허용
제품 경쟁력
경쟁력 있는 속도-전력 비율, 배터리 구동 애플리케이션에 적합
호환성
혼합 모드 전압 작동 및 3.6V 허용 IO와 호환
표준 인증 및 준수
래치업 성능에 대해 JEDEC 표준 JESD78 Class II 수준을 충족하거나 초과함, RoHS 준수
수명 및 지속 가능성
장기 신뢰성을 위한 설계, 낮은 전력 소비에 중점을 둔 지속 가능한 전자 부품
실제 적용 분야
통신, 컴퓨팅, 데이터 네트워킹, 산업, 소비자 전자제품
이메일 : Info@Ariat-Tech.com 또는 RFQ TC74VCX574FT 온라인.
| TC74VCX574FT 증권 | TC74VCX574FT 가격 | TC74VCX574FT 전자 | |||
| TC74VCX574FT 구성 요소 | 인벤토리 | TC74VCX574FT Digikey | |||
| 공급 업체 TC74VCX574FT | TC74VCX574FT 온라인 주문 | 문의 TC74VCX574FT | |||
| TC74VCX574FT 이미지 | TC74VCX574FT 그림 | TC74VCX574FT PDF | |||
| TC74VCX574FT 데이터 시트 | TC74VCX574FT 데이터 시트 다운로드 | 제조업체 TAEC Product (Toshiba Electronic Devices and Storage Corporation) | |||
| TC74VCX574FT 관련 부품 | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| 영상 | 제품 모델 | 기술 | 제조사 | 견적 | |
 |
TC74VCX74FT TSSOP14 | TOSHIBA TSSOP14 | TOSHIBA | ||
 |
TC74VCXH16244 | ||||
|
TC74VCX541FT | TC74VCX541FT TOSHIBA | TOSHIBA | ||
 |
TC74VCX574FTEL | IC FF D-TYPE SNGL 8BIT 20TSSOP | Toshiba Semiconductor and Storage | ||
|
TC74VCXH16244(EL ,F | TOSHIBA TSSOP48 | TOSHIBA | ||
|
TC74VCXH16244(EL,F | TC74VCXH16244(EL,F TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX74FT | TC74VCX74FT TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCXH162374 | TOSHIBA SSOP | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX541FK-EL | TC74VCX541FK-EL TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX74FK | TOSHIBA | |||
|
TC74VCX374FT | TC74VCX374FT TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX541FK IC | TOSHIBA VSSOP20 | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX541FTG | TC74VCX541FTG TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX86FT | TC74VCX86FT TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX573FK | TC74VCX573FK TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCXH162374(E | TOSHIBA SOP | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX541FTEL | IC BUF NON-INVERT 3.6V 20TSSOP | Toshiba Semiconductor and Storage | ||
|
TC74VCX541FT(EL) | TOSHIBA | |||
|
TC74VCX573FT | TC74VCX573FT TOSHIBA | TOSHIBA | ||
|
TC74VCX541FK | TC74VCX541FK TOSHIBA | TOSHIBA | ||
메시지
더
Microchip의 Polarfire® SOC FPGA는 AEC -Q100 인증을 받았으며, -40 ° C에서 125 ° C의 작동을 포함하여 가혹한 자동차 조건에서 신뢰성을 확인했습니다.64 ...
PSOCTM 4000T는 회사의 5 세대 Capsense ™ 기술 및 다중 판매 기능을 특징으로하는 Infineon의 최초의 제품입니다.이 감지 기술은 성능을 최적화하기 위해 단일...
자동차 부품 공급 업체 경영진에 따르면 자동차 제조업체가 내부 연소 엔진 (ICE) 플랫폼의 수명을 연장하기로 선택함에 따라 북미 시장의 EV 개발이 중단되었다...
Infineon과 Eatron은 AI 배터리 관리 시스템 (BMS) 협업을 산업 및 소비자 전자 장치로 확장하고 있습니다.Infineon의 PSOC ™ 마이크로 컨트롤러를 기반 으로이...
반도체에서 최근 첫 번째 실시간, 간접 기간 (ITOF) 센서 인 Hyperlux ID 시리즈의 출시를 발표했습니다.이 시리즈는 고정력 장거리 측정 및 빠르게 움직이는 물...
신제품
더
PD30 시리즈 광전 센서 Carlo Gavazzi의 소형 광전 센서는 소형 패키지로 고성능입니다. Carlo Gavazzi P...
A111 펄스 코 히어 런트 레이더 용 XC112 / XR112 평가 키트Accelerer의 XC112 및 XR112 평가 킷, 유연한 플랫 케이블 및 최대 4 개의 A111 펄스 코 히어 런트 ...
MINAS A6 시리즈 서보 드라이브 및 모터 Panasonic의 MINAS A6 제품군은 부하의 영향을 최소로 억제하여 안...
UV LED 드라이버 보드 RayVio의 UV-C 에미 터 XE 및 XP1 시리즈 용 UV LED 드라이버 보드 RayVio의 자외...
산업용 및 확장 테스트 DDR SDRAM Insignis의 DDR SDRAM 디바이스는 독점적 인 확장 테스트 플로우로 인해 ...